Estudantes do IEEE UFF no evento IEEE Brazil Council SAC Awards
No dia 14 de outubro, ocorreu o IEEE Brazil Council SAC Awards, premiação anual que reconhece o desempenho dos Ramos Estudantis associados ao IEEE no Brasil. Nesta edição, os alunos do IEEE UFF foram convidados para o recebimento do prêmio de “Ramo Exemplar no Brasil”. Além disso, foram premiados também em duas categorias de Casos de Sucesso: receberam o 1º lugar em “Casos de Sucesso em Gestão” pelo trabalho “Visita Técnica ao Marco da Industrialização Brasileira” e o 3º lugar em “Casos de Sucesso em Projetos Educacionais” com o Projeto “KidSTEM”.
O “KidSTEM” consiste na segunda edição de um livro digital gratuito com 10 atividades voltadas para o público infantil, na faixa etária de 5 a 10 anos. O objetivo do projeto é despertar o interesse das crianças nas áreas de Ciência, Tecnologia, Engenharia e Matemática (STEM, na sigla em inglês). Já a “Visita Técnica ao marco da Industrialização Brasileira” foi uma visita ao Centro de Pesquisas da Companhia Siderúrgica Nacional (CSN), a maior siderúrgica da América Latina.
O Ramo Estudantil também participou, no dia 30 de outubro, da IEEE R9 Student Activities Committee Regional Award, premiação internacional que anualmente reconhece o desempenho dos Ramos Estudantis e Capítulos na América Latina e Caribe. Nesta premiação, foram conquistados o prêmio de 3º Lugar em “Exemplary Affinity Group” com o Capítulo WIE UFF (Women In Engineering) e 3º Lugar em “Technical Chapter Success Case” com o Capítulo PES UFF (Power and Energy Society).
O IEEE UFF tem como missão potencializar a formação acadêmica e profissional dos seus membros, por meio de projetos técnicos e sociais. Segundo representante do Ramo Estudantil, essas premiações e reconhecimentos “trazem energia e motivação para o nosso grupo, mostrando que estamos no caminho certo para um projeto acadêmico de excelência. Compartilhar essa conquista não apenas honra o nosso Ramo Estudantil, mas também destaca a importância do apoio e engajamento da nossa comunidade”.
